設備機器詳細

サンプルホルダー(Xeフラッシュ)

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場所 滋賀県工業技術総合センター(栗東) 電話:077-558-1500
料金表コード RA1
機器/試験名称 熱物性測定システム
商品名 フラッシュアナライザー
メーカ名 ネッチ・ジャパン株式会社
型式 LFA447 Nanoflash ・LFA457 Microflash
仕様 測定可能範囲(熱拡散率):0.01〜1,000 mm2s-1

サンプルサイズ:10mm×10mm、10mmφ等
サンプル厚み :0.5〜3mm(2mm推奨。また、サンプル材質により測定できる厚みが変わります)

■LFA447(キセノンフラッシュ)
光源   :Xeランプ
測定温度:室温〜 300℃

■LFA445(レーザフラッシュ)
光源   :レーザ
測定温度:室温〜1100℃

★熱伝導率の測定にはあらかじめ密度の値が必要です。
当センター「密度計」で測定いただくことも可能です。
http://info.shiga-irc.go.jp/public/113m00_bihin.php?kinou=view&KID=1431&SID=tvuu6p2rs2tvan..
備考  
用途 材料の放熱性あるいは断熱性の評価指標である、熱拡散率/熱伝導率が測定可能です。
取得日 平成26年4月16日 (2014年4月16日)
設置場所  
使用料 2290円 / 時間
使用料(増分) -------