| 仕様 |
[IEC61000-4-2に準拠]
※注意事項
・本試験機は、電気製品や電子機器などの商用電源で動作させる完成品を対象と
したESD試験に使用されるものです。そのため、機器や回路基板に実装される
電子部品や半導体などの部品単体へのESD試験である半導体用静電気試験規格
に規定されている人体モデル（HBM）試験およびマシンモデル（MM）試験用の
ESD試験機ではありませんので、これら試験は実施出来ません。
・本試験機と半導体用電気試験規格に規定されているESD試験機とは、試験機の
構造が全く異なりますですので、仮に本試験機のCとRの値をHBM試験やMM試験
に規定されている値に変更したとしても、本試験機ではHBM試験やMM試験で規
定と同じESD波形は出力されません（半導体用静電気試験規格について、詳し
くは下記【参考】のPDFファイルをご参照ください）。
放電方式：接触放電、気中放電
出力電圧：0.5〜30kV
極性：正または負
放電コンデンサ：150pF±10％（交換可能，下記8種類のみ）
100,150,200,250,300,330,400,500[pF]
放電抵抗：330Ω±5％（交換可能，下記11種類のみ）
100,150,200,250,300,330,500,1K,2K,5K,10K[Ω]（※0Ωの設定は出来ません。）
充電抵抗：68MΩ（固定：交換不可）
供試品用電源環境：単相AC100V/60Hzのみ
【参考】
半導体用静電気試験方法に関する技術資料の一例として、下記URLを紹介します。
（NECエレクトロニクス株式会社コーポレートコミュニケーション部様より、リンク許可承諾済）
■「静電気放電（ESD）破壊対策ガイド」［PDFファイル］
https://www.renesas.com/us/ja/document/oth/guide-prevent-damage-semiconductor-devices-electrostati..
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